列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10

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NR20XE的φ20mm加长口径和稳定端面，能测量表面纹路和潮湿的产品，还可以直接浸泡到液体里，对液体的颜色进行准确测量。

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不锈钢分析仪器，不锈钢成分分析仪器可测定碳、硫、锰、磷、硅、铜、镍、铬、钼、稀土、镁、钛、锌、钒、铅、铝、铁、钴等元素含量。

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MH-123A 台湾Matsuhaku 玛芝哈克 台湾Matsuhaku 玛芝哈克MH-123A塑胶颗粒密度计  MH-123A电线电缆密度计  PVC密度计 橡胶密度计 1 测试种类：固体、颗粒体、浮体比重、体积值、纯度百分比， 2 密度解析：0.001g/cm３ 3  秤重范围：123g/0.001g 4  密度范围：＞

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TT212涂层测厚仪 涂层测厚仪TT212是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。

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德国尼克斯涂层测厚仪简介： 德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父亲即开

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可通过按键选择测试材料、硬度制式、测试方向及测试次数； -可实现六种硬度（HLD、HRB、HRC、HB、HV、HS）间的转换； -可反复显示各次测试结果，并可自动或手动删除误操作测试结果； -可随时输出单次测试平均值或整体输出所有存储数据； -自动检测电池电压，在测试状态有电量显

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